| 出典: コンピュータ断層撮影 『フリー百科事典 ウィキペディア日本語版(Wikipedia)』 最終更新 2018年10月6日 (土) 04:37 UTC、URL: https://ja.wikipedia.org/ コンピュータ断層撮影（コンピュータだんそうさつえい、英: 、略称：CT）は、放射線などを利用して物体を走査しコンピュータを用いて処理することで、物体の内部画像を構成する技術、あるいはそれを行うための機器。 ・・・ |
| 出典: x64 『フリー百科事典 ウィキペディア日本語版(Wikipedia)』 最終更新 2018年12月22日 (土) 14:13 UTC、URL: https://ja.wikipedia.org/ x64またはx86-64とは、x86アーキテクチャを64ビットに拡張した命令セットアーキテクチャ。実際には、AMDが発表したAMD64命令セット、続けてインテルが採用したIntel 64命令セット（かつてIA-32eまたはEM64Tと呼ばれていた）などを含む、各社のAMD64互換命令セットの総称である。x86命令セットと互換性を持っていることから、広義にはx86にx64を含む場合がある。なお、インテルはIntel 64の他にIA-64の名前で64ビット命令セットアーキテクチャを開発・展開しているが、これはx64命令セット、x86命令セットのいずれとも互換性がない。 [Intel 64] Intel 64は、IA-32アーキテクチャの64ビット拡張であり、インテルによるAMD64の実装である。 開発経緯 ・・・ インテルは、AMD64互換命令セットの名称を数回 変更した。IDFで用いられた名前はCT(Clackamas Technology)、その数週間後にIA-32e(IA-32 extensions)と呼称を変更し、2004年4月にはこれを EM64T(Extended Memory 64 Technology)という名前で公式に発表した。製品リリース後の2006年7月27日には、インテルはEM64TをIntel 64と改称している。 |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| Coding Test | |
| coding test | |
| component test | |
| CT | |
| Part Test | |
| part test | |
| Program Test | |
| program test | |
| PT | |
| Unit Test | |
| unit test | |
| UT | |
| コンポーネントテスト | |
| システムテスト | |
| ソフトウェアテスト | |
| テスト手法 | |
| モジュールテスト | |
| ユニットテスト | |
| 単体テスト | |
| 単体試験 | |
| 更新日: |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| Computed Tomography | 断層画像 |
| Computed tomography | 断層撮影 |
| Computer Tomography | 断層写真術 |
| Computer Tomography Scanner | 断面画像 |
| Computerized tomography | 輪切り |
| CT | |
| CTスキャナ | |
| CTスキャナー | |
| CT検査 | |
| EMIスキャナー | |
| X線CT | |
| X線CT検査 | |
| X線コンピュータ断層撮影 | |
| コンピューター断層撮影 | |
| コンピュータ断層撮影 | |
| コンピュータ断層撮影法 | |
| コンピューティドゥ・トゥモグラフィー | |
| コンピューテッド・トモグラフィー | |
| ファンビームCT | |
| 更新日:2020年11月29日 |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| CT | れんけつ しけん |
| Combined Test | 連結テスト |
| kəmbáind tést | ・ |
| カゥンバーインドゥ テストゥ | Integration Test |
| カゥンバーインドゥ・テストゥ | ìntəgréiʃən tést |
| カゥンバ́ーインドゥ・テ́ストゥ | イェンテグレイシュン テストゥ |
| コンバインドゥ テスト | イェンテグレイシュン・テストゥ |
| コンバインドゥ・テスト | イェ̀ンテグレ́イシュン・テ́ストゥ |
| コ́ンバインドゥ・テ́スト | インテグレーション テスト |
| 結合試験 | インテグレーション・テスト |
| けつごう しけん | イ̀ンテグレ́ーション・テ́スト |
| 結合テスト | 統合試験 |
| サブシステム間結合テスト | 統合テスト |
| モジュール間結合テスト | ・ |
| 複合試験 | 【 以下関連語 】 |
| ふくごう しけん | Combined |
| ・ | kəmbáind |
| IT | カゥンバーインドゥ |
| ái tíː | カゥンバ́ーインドゥ |
| アイ ティー | コンバインドゥ |
| ア́イ ティ́ー | コ́ンバインドゥ |
| Interface Test | [形容詞] |
| íntərfèis tést | 一体化した |
| インタゥーフェイス テストゥ | 統合された |
| インタゥーフェイス・テストゥ | 結合された |
| イ́ンタゥーフェ̀イス・テ́ストゥ | 複合の |
| インターフェース テスト | ・ |
| インターフェース・テスト | Join |
| イ́ンターフェ̀ース・テ́スト | dʒ́ɔin |
| ・ | ジョイェン |
| JT | ジョ́イェン |
| Join Test | ジョイン |
| dʒ́ɔin tést | ジョ́イン |
| ジョイェン テストゥ | [名詞] |
| ジョイェン・テストゥ | 接合 |
| ジョ́イェン・テ́ストゥ | [自動詞] |
| ジョイン テスト | 接合する |
| ジョイン・テスト | 連結する |
| ジョ́イン・テ́スト | [他動詞] |
| 連結試験 | 接合する |
| 更新日:2024年 4月28日 |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| CT | |
| Current Tranformer | |
| 変流器 | |
| 更新日: |
| 同義語・類義語 | 関連語・その他 |
|---|---|
| EM64T | 64ビット拡張機能 |
| AMD64互換命令セット | AMD64 |
| Clackamas | AMD64アーキテクチャ |
| Clackamas Technology | IA-64 |
| CT | Xeon |
| Extended Memory 64 Technology | Xeon 5500番台 |
| Extension Memory 64 Technology | Xeon E5系 |
| IA-32 Extensions | Yamhill |
| IA-32 extensions | ジーオン |
| IA-32E | ジオン |
| IE-32e | |
| Intel 64 | |
| Intel 64 Technology | |
| Intel 64テクノロジー | |
| x64 | |
| x64 Edition | |
| x86-64 | |
| x86プロセッサの64ビット拡張アーキテクチャ | |
| イーエムろくよんティー | |
| エクステンデッド・メモリ64テクノロジ | |
| エックス64 | |
| クラゥェカゥマゥス・テクナラゥジィー | |
| クラカマス・テクノロジー | |
| 更新日:2021年10月21日 |